鐵電測試係統既可適用於壓電陶瓷材料居裏溫度、縱向壓電應變常數(靜態)、強場介電性能、熱釋電係數、品質因數及機電耦合係數等;如增加高壓放大器模塊，也可實現鐵電材料的電學測試； 配合高低溫測試環境同時可以測量不同環境溫度下的材料性能參數。該係統可廣泛地應用於如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。為一體的綜合測試係統。為目前國內研究壓電陶瓷材料鐵電材料全麵的測試設備。模塊化設計具有無與倫比的強大擴展性。

設備內置完整的專用工控計算機主機、測試版路、運算放大器、數據處理單元等，包括專用工控計算機主板、CPU(i3或更高)、RAM(4G或更大)、硬盤(120G固態硬盤)、網卡、USB接口、VGA接口、預裝Windows7操作係統、鐵電分析儀專用測電試軟件等。

產品優勢：

優勢一：可測量壓電陶瓷居裏溫度、靜態壓電常數

優勢二：測量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數及介質損耗測試

優勢三：可測量壓電材料積分電荷法熱釋電係數測試

優勢四：可測量壓電陶瓷的品質因數及機電耦合係數

優勢五：可選配不同的測試裝置進行不同環境下的壓電陶瓷參數測試

優勢六：本儀器可配合高壓放大器實現壓電及鐵電材料的綜合測試

測量鐵電材料電滯回線的方法通常有兩種：衝擊檢流計描點法和 Sawyer-Tower電路法。第二種方法可用超低頻示波器進行觀察以及用xy函數記錄儀進行記錄，簡便迅速，故人們常常采用。

采用Sawyer-Tower電路準靜態測試鐵電陶瓷材料電滯回線的測量原理圖（GB/T6426-1999）如圖4.5-30所示，係統絕緣電阻不小於108Ω，超低頻高壓源輸出電壓峰值為0~5KV、頻率為0.1Hz的正弦波。運算放大器輸入阻抗不小於109Ω。標準電容器Co的直流電阻不小於109Ω，一般容量為10~30μF。分壓電阻R1和R2總阻值不小於5MΩ，補償電阻Rs根據不同材料選擇不同的電阻值。為了避免空氣電擊穿，將試樣要浸沒在矽油中，根據不同材料和要求可在不同溫度下測量，測量時要求試樣溫度均勻，控溫誤差不大於2℃，試樣采用全電極、半極化試樣，推薦試樣尺寸為直徑d不大於20mm，厚度t不大於1mm，試樣應保持清潔、幹燥。

HV一超低頻高壓源；F一函數記錄儀；A一運算放大器；K1一高壓開關；K2一普通低壓開關；Cx一試樣；Co一標準電容器；R1、R2一分壓電阻；Rs一可調補償電阻

因為標準電容器的容量Co遠大於試樣的電容量Cx，所以高壓源輸出電壓幾乎全部加在樣品上，因此，X軸上的電壓正比於試樣兩端的電壓，而Co上的電壓（即Y軸電壓）正比於Cx的電荷Q，記錄儀上測得的曲線就是試樣的極化強度P和電場強度E的關係曲線，即電滯回線，如圖4.5-10所示。

測出樣品的電濫回線之後，即可計算該材料的剩餘極化強度Px和矯頻場強應Ec，計算公式如下

式中，Q為電壓為零時之總電荷，C；C。為標準電容器的電容量，F；Vy為從原點至E=0處之y軸電壓，V；Sy為函數記錄儀的y軸靈敏度，V/m；ry為從原點到E=0處之y軸讀數，m；A為試樣麵積，m2；Vx為樣品兩端電壓，V；Sx為函數記錄儀的X軸靈敏度，V/m；rx為從原點到P=0處的X軸讀數，m；d為高壓源的輸出分壓比；t為試樣厚度，m。

若要測量某鐵電材料的自發極化強度Ps，可將測得的電滯回線的線性部分外推（或做切線）與y軸（極化強度P軸）交於Ps點，此點的讀數便是自發極化強度。